半导体测量相关设备

以半导体芯片和传感器制造为核心,研发出集设计、生产、测试、喷镀等整套的解决方案,可用于功率电子器件、传感器、光电子器件、微波电路及其他新型电子元器件的单、双面对准及曝光工艺,对于半导体元器件设计研发起到有力支持。

LSWN 200 磁光克尔显微镜

LSWN 100 四探针电阻测量系统

LSWN 500 振动式样品磁力计

LSWN 180 接触角测量仪

LSWN 750 磁光克尔测量仪

LSWN 300 导体薄膜无损检测系统

LSTM 900 经颅磁刺激系统

LSAG 1000交变梯度磁力计