产品介绍

LSWN 200 磁光克尔显微镜是一种基于磁光克尔效应原理设计的用于样品磁畴动态/静态观测的设备，Kerr系统架构不仅具备观测待测物的磁区结构的功能，亦可同时量测出磁化曲线，并且透过切换两道光(L-MOKE/T-MOKE)及选择偏振型态(P mode/S mode)的功能，可以使用四种不同型态的磁光克尔效应来进行实验。克尔显微镜通过相机拍摄不同磁场下形成的图案，经过背景消除，对比增强，灰度计算等可量测磁性材料、磁性微结构的局部磁特性。

主要规格

量测200um*300 um以内的磁特性，量测克尔效应类型P型/S型，磁场2T；

适用的样品：尺寸在10mm×10mm的范围内；

产品特点

1.包含多道线偏振入射光，可对不同类型的磁光克尔效应进行量测；

2.可调整起偏器与检偏器角度，选择不同类型的偏振光；

3.采用数字图像处理技术，增强不同偏振状态的成像对比；

应用领域

1.量测磁性材料

2.磁性微结构

3.磁化曲线

应用案例

磁膜厚度10 nm在不同外加磁场下的磁区结构变化图 (L-MOKE及P mode)，其外加磁场分别为：(a)50Gauss；(b)30Gauss；(c)20Gauss；(d)10Gauss；(e)-10Gauss；(f)-20Gauss；(g)-30Gauss；(h)-50Gauss。